表面科学
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特集:収差補正による原子分解能電子顕微鏡の最前線
収差補正電子顕微鏡と表面・界面科学
高柳 邦夫大島 義文李 少淵田中 崇之谷城 康眞
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2013 年 34 巻 5 号 p. 226-233

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抄録

Aberration corrected electron microscopy has revealed various aspects of materials and their functions, i.e., interfacial, ionic, chemical, photonic, plasmonic, magnetic and electronic aspects. A 50 pm resolution microscopy, particularly, enabled us to observe lithium ions in LiMn2O4, a material used as lithium ion battery electrodes. The 50 pm electron probe scanning over the surface is sensitive enough to detect a single adatom/vacancy similarly to STM. The 50 pm microscopy, in transmission mode of observation, is useful for study of catalysis, as demonstrated for Au/TiO2 in O2 and/or CO environment. Aberration corrected in-situ electron microscopy provides atomic, ionic, and electronic properties, in relation to structures at “nano in macro”.

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